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VLSIテストデータ自動処理システムの開発
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/28394
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/283941c54a8b5-d5cf-41f1-8180-a23969ee3c47
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SLDM87039004.pdf (728.5 kB)
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Copyright (c) 1987 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1987-10-15 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | VLSIテストデータ自動処理システムの開発 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | A Test Data Generation System For VLSI (in Japanese) | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）東芝 超LSI研究所 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）東芝 超LSI研究所 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| VLSI Research Center, TOSHIBA Corporation | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| VLSI Research Center, TOSHIBA Corporation | ||||||||
| 著者名 |
立石, 昭光
新田, 進
× 立石, 昭光 新田, 進
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| 著者名(英) |
Akimitsu, Tateishi
Susumu, Nitta
× Akimitsu, Tateishi Susumu, Nitta
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 本報告は、東芝標準テストデータインターフェース言語(TSTL2 : Toshiba Standard Test data interface Language)・テストデータベース・TSTL2コンパイラ、TSTL2逆コンパイラ、論理シミュレータ／機能シミュレータインターフェース、テスタインターフェース等VLSIテストデータ自動処理システムの開発について述べたものである。本システムではテストデータベース(TIF:Test data Interface File)を中心に構築し、東芝標準テストデータインターフェース言語によって、論理シミュレーション／機能シミュレーションやテスタ用のデータ作成、テスタの制約事項に対するエラーチェック等を自動的に行うことが可能となり、テストデータの移植性が向上し、LSIテスタのテストプログラムの開発期間が短縮された。 | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | This paper describes a test data generation system for VLSI. This system consists of Toshiba Standard Test data interface language (TSTL2), TSTL2 complier, TSTL2 reverse-compiler, a logic/function simulator interface, a tester interface and Test data Interface File (TIF) at the core. The same test description in TSTL2 may be compiled to run against logic/function simulations and testers. It has proved do be an effective tool for cutting testing time. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 巻 1987, 号 74(1987-SLDM-039), p. 1-7, 発行日 1987-10-15 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
