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アイテム
鍵ベース構成のState Dependent Scan Flip-Flopを用いたセキュアスキャンアーキテクチャ
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/86939
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/86939db247c48-3679-4835-88d7-1a28d3ea3704
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SLDM12158009.pdf (392.2 kB)
2100年1月1日からダウンロード可能です。
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Copyright (c) 2012 by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
This SIG report is only available to those in membership of the SIG. |
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| SLDM:会員：¥0, DLIB:会員：¥0 | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2012-11-19 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 鍵ベース構成のState Dependent Scan Flip-Flopを用いたセキュアスキャンアーキテクチャ | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | Secure Scan Architecture Using State Dependent Scan Flip-Flop with Key-Based Configuration against Scan-Based Attack | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | セキュア設計 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 早稲田大学大学院基幹理工学研究科 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 早稲田大学高等研究所 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 早稲田大学大学院基幹理工学研究科 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 早稲田大学大学院基幹理工学研究科 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Grad. of Fundamental Science and Engineering, Waseda University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Waseda Institute for Advanced Study, Waseda University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Grad. of Fundamental Science and Engineering, Waseda University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Grad. of Fundamental Science and Engineering, Waseda University | ||||||||
| 著者名 |
跡部, 悠太
史, 又華
柳澤, 政生
戸川, 望
× 跡部, 悠太 史, 又華 柳澤, 政生 戸川, 望
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| 著者名(英) |
Yuta, Atobe
Youhua, Shi
Masao, Yanagisawa
Nozomu, Togawa
× Yuta, Atobe Youhua, Shi Masao, Yanagisawa Nozomu, Togawa
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 暗号 LSI は機密操作を行うために使用されるため，それ自体は安全である必要があるスキャンテストは高い故障検出率を持つテスト容易化手法であり，近年の LSI の大規模化によって重要性が高まっているが，様々な暗号回路へのスキャンベース攻撃手法が報告されているそこで，テスト容易性を保ちスキャンベース攻撃に対して高い安全性を持つセキュアスキャンアーキテクチャとして SDSFF (State Dependent Scan Flip-Flop) が提案された SDSFF では，スキャンフリップフロップに対して付加するラッチの値を更新するタイミングが重要な問題となる本稿では，オンラインテストを可能にする更新タイミングを提案する提案する更新タイミングはスキャンチェイン上の任意のフリップフロップと回路設計時に決定した値との比較結果によって決定される RSA 暗号回路， AES 暗号回路及び DES 暗号回路に提案手法を実装し，評価を行った実験結果より，様々な暗号回路において有効であることが示せた． | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | Secure cryptographic LSIs is intensively used in order to perform confidential operation. Scan test has become the most widely adopted test technique to ensure the correctness of manufactured LSIs, in which through the scan chains the internal states of the circuit under test (CUT) can be controlled and observed externally. However, scan chains using scan test might carry the risk of being misused for secret information leakage. Therefore a secure scan architecture using SDSFF(State Dependent Scan Flip-Flop) against scan-based attack which achieves high security without compromising the testability is proposed. In SDSFF, there is a problem which is the update timing of the latch which added to the scan FF. In this paper, we propose the update timing to online test without sacrificing the security. In our method, the latches are updated by result which the value of KEY which decided when designed compared with any FFs in a scan chain. We show that by using proposed method, neither the secret key nor the testability of vairous crypto circuits implementation is compromised, and the effectiveness of the proposed method. Experimental results on various crypto implementations show the effectiveness of the proposed method. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
| 書誌情報 |
研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 巻 2012-SLDM-158, 号 9, p. 1-6, 発行日 2012-11-19 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
