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インメモリKey-Value Store向けメモリエラーハンドラのテスト支援
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/231386
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/23138610581133-a2d9-4908-a47d-0cfab53580fd
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-ComSys2023006.pdf (2.5 MB)
2025年11月30日からダウンロード可能です。
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Copyright (c) 2023 by the Information Processing Society of Japan
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| 非会員：¥660, IPSJ:学会員：¥330, OS:会員：¥0, DLIB:会員：¥0 | ||
| Item type | Symposium(1) | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2023-11-30 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | インメモリKey-Value Store向けメモリエラーハンドラのテスト支援 | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||
| 著者所属 | ||||||||||
| 東京農工大学 | ||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||
| 東京農工大学 | ||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||
| en | ||||||||||
| Tokyo University of Agriculture and Technology | ||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||
| en | ||||||||||
| Tokyo University of Agriculture and Technology | ||||||||||
| 著者名 |
根津, 直也
× 根津, 直也
× 山田, 浩史
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| 論文抄録 | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | DRAMのようなメモリデバイスでは，その動作中の意図しないビット反転によりメモリエラーが発生することがある．インメモリkey-value stores（KVSes）はそのメモリフットプリントの大きさからメモリエラーによる影響を受けやすいため，メモリエラーに対する堅牢性を持たせるためのソフトウェアメカニズムが多く開発されている．しかし，このようなメモリエラーハンドラのテストは，ハンドラがイベント駆動型であること，ハンドラの動作がエラーの生じたメモリオブジェクトに依存すること，インメモリKVSが巨大なメモリ空間内で様々なオブジェクトを管理すること，といった特徴から，効率的にテストすることが困難である．本論文では，インメモリKVSのメモリエラーハンドラのランタイムテストをサポートするMemFIを提案する．本アプローチでは，目的のエラーハンドラをテストするためにメモリオブジェクトレベルでのフォールトインジェクションを実行し，加えてKVSの同一内部状態におけるテストの円滑化を実現する．MemFIの有効性を示すために，広く使われるインメモリKVSであるmemcached 1.6.9に耐メモリエラーメカニズムを組み込み，MemFIのプロトタイプを使用してその動作をテストした．その結果，MemFIベースのランタイムテストでは，意図したエラー処理メカニズムの動作を正しく検証できることがわかった．また，独自のコストモデルに基づき，従来のフォールトインジェクション手法とMemFIを比較することで，その効率性を示す． | |||||||||
| 書誌情報 |
コンピュータシステム・シンポジウム論文集 巻 2023, p. 36-46, 発行日 2023-11-30 |
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| 出版者 | ||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||
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Cite as
根津, 直也, 山田, 浩史, 2023, インメモリKey-Value Store向けメモリエラーハンドラのテスト支援: 情報処理学会, 36–46 p.
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