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ケルビンプローブ表面力顕微鏡の開発とその基礎特性
https://cit.repo.nii.ac.jp/records/37
https://cit.repo.nii.ac.jp/records/3719919dd4-b4f8-4825-b724-eb82408f8806
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
理工編_p53-佐藤先生 (4.6 MB)
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| Item type | 紀要論文_JAIRO Cloud（WEKO3）対応_56aaa311(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2014-03-26 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | ケルビンプローブ表面力顕微鏡の開発とその基礎特性 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | Development of Kelvin probe force microscopy and its basic properties | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 主題 | 原子間力顕微鏡，広域調整，表面電位，エネルギーバンド図 | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 主題 | Atomic force microscopy,Amplitude modulation,Surface Potential,Energy band diagram | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||||||||
| 著者 |
佐藤, 宣夫
× 佐藤, 宣夫
× 脇田, 和樹
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| 書誌情報 |
千葉工業大学研究報告 理工編 巻 61, p. 53-58, 発行日 2014-01-01 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | 千葉工業大学 | |||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 0385-7026 | |||||||||||||||||
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Cite as
Satoh, Nobuo, Wakita, Kazuki, 2014, Development of Kelvin probe force microscopy and its basic properties: 千葉工業大学, 53–58 p.
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